リソテックジャパン(株)は、平成5年の創業以来半導体リソグラフィー研究開発のプロフェショナルチームとして、お客様の研究開発をご支援してまいりました。特にお客様のあらゆるニーズにお応えする委託型測定・解析・評価サービスは、高い評価を頂いています。












リソグラフィー・シミュレーションパラメータ測定サービス
リソグラフィーのプロセス評価には膨大な時間と労力が必要です。プロセス評価の効率的な手法として、リソグラフィーシミュレーションを用いることが大変効果的です。

光感光性材料の特性評価サービス
光感光性材料は光を当てることにより、現像液に可溶または不溶化することで、リソグラフィ特性が生まれます。そこで、当社の解析露光装置および、現像アナライザーを用いて、現像特性の評価を行います。また、露光による屈折率の変化や、透過率の変化を知ることで、その材料のリソ特性を把握することが可能となります。
アウトガス分析サービス
露光中のレジストから発生するアウトガスは露光機のレンズを曇らせたり、今民ネーションの原因となります。露光中にどのようなガスが発生するかを検討することが出来ます。最近はArF露光におけるレジストからのアウトガス分析の需要が高まってきています。

液浸Leaching分析サービス
ArF液浸露光では、レジスト膜またはトップコート(TC)が液浸液に接した際の溶出物質が問題となります。オランダASML社は昨年11月、その許容基準を発表。また、ベルギーIMECにて測定手法(WEXA法)が発表されました。当社ではいち早くWEXAを装置化し、受託測定を開始しました。

ナノインプリント実験サービス
当社では、早くより、プロセス開発用のナノインプリント装置の開発を行ってきました。保有するデモ機によりナノインプリント受託実験サービスを行っております。

レジスト剥離サービス
フォトテストに使用したSi基板上のレジストの剥離・洗浄サービスを行っております。

お客様独自の測定・評価・解析対応
測定・評価・解析に関わることで、お困りごとがあれば、お気軽にご相談ください。

受託測定関連書籍
多数の測定・評価・解析関連の書籍を出版しています。

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